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芬創(chuàng)技術(shù)創(chuàng)新:申請激光跟蹤儀立體標(biāo)準器測量系統(tǒng)及測量方法專利,精度再升級

2024-11-13 14:46| 發(fā)布者: | 查看: |

來源:“金融界”

金融界 2024 年 9 月 11 日消息,天眼查知識產(chǎn)權(quán)信息顯示,上海芬創(chuàng)信息科技有限公司申請一項名為“一種基于激光跟蹤儀的立體標(biāo)準器測量系統(tǒng)及其測量方法“,公開號 CN202411044172.9,申請日期為 2024 年 7 月。

專利摘要顯示,本發(fā)明為一種基于激光跟蹤儀的立體標(biāo)準器測量系統(tǒng)及其測量方法,采用平面反射裝置使激光跟蹤儀的激光光路發(fā)生鏡面折轉(zhuǎn)而改變其激光光路,使激光跟蹤儀鏡像原點與立體標(biāo)準器兩兩頂點的靶球處在同一測量軸線上,減少需對立體標(biāo)準器進行多次搬動調(diào)整位置的動作,即可實現(xiàn)激光跟蹤儀干涉測距模塊的高精度測量工作,實現(xiàn)激光跟蹤儀干涉模塊測量立體標(biāo)準器的各邊長,再根據(jù)立體標(biāo)準器的幾何關(guān)系,以立體標(biāo)準器的四個頂點建立笛卡爾坐標(biāo)系,建立頂點-邊長關(guān)系方程,計算出各頂點的坐標(biāo)值,從而獲得立體標(biāo)準器各頂點的參考坐標(biāo)值。本發(fā)明操作便捷、測量精度高、不受限于立體標(biāo)準器尺寸大小,實現(xiàn)了立體標(biāo)準器各頂點坐標(biāo)值的精確測量。

上海芬創(chuàng)信息科技有限公司的這一專利成果,不僅是對公司技術(shù)實力的有力證明,更是對行業(yè)發(fā)展的積極貢獻。我們有理由相信,上海芬創(chuàng)信息科技有限公司將在光學(xué)測量領(lǐng)域書寫出更加輝煌的篇章,為科技進步與產(chǎn)業(yè)升級貢獻更多“芬創(chuàng)力量”。

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